Bei der Entwicklung von komplexen Baugruppen muss schon während der Designphase die Frage nach den Prüfmittel mit berücksichtigt werden.
Moderne hochintegrierten Bauteile verfügen heute oft über Möglichkeiten, Prüfverfahren mittels JTAG/Boundary Scan (IEEE Std 1149.x) einzusetzen,
um eine möglicht hohe Testabdeckung der Schaltung zu erreichen. Auch die Programmierung von Speicher- und Logikbausteinen kann in den Systemtest mit eingegliedert werden.
Dadurch wird ein getrennter Produktionsschritt eingespart.
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Wir verfügen über ein selbst entwickeltes netzwerkfähiges JTAG-Frontend mit diversen Adaptern. Entsprechende Bauteile in der realisierten Schaltung vorausgesetzt,
kann hier der Aufwand zur Erstellung von Testumgebungen und -programmen erheblich reduziert werden.
Die Entwicklung von Funktionstests, die auf dem Prüfling selbst laufen oder der Einsatz eines In-Circuit-Testers sind meist erheblich schwerer in den Produktionsprozess zu implementieren.
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Die eingesetzten Verfahren
- Boundary Scan für den Test scan-fähiger Bauteile und Schaltungsteile des Prüflings,
- on-board Programmierung von Flash- und CPLD/FPGA-Bauteinen,
- JTAG-fähige IO-Platinen bei der Überprüfung der Schaltungsperipherie
erlauben es uns, schnell spezifische Prüfeinrichtungen zu realisieren und den Anforderungen zeitnah anzupassen.
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